发明公开
- 专利标题: 一种MMC子模块加速寿命的试验电路及方法
- 专利标题(英): MMC sub-module accelerated life test circuit and method
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申请号: CN201710154464.1申请日: 2017-03-15
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公开(公告)号: CN108627709A公开(公告)日: 2018-10-09
- 发明人: 查鲲鹏 , 曹均正 , 闻福岳 , 屈海涛 , 李兴哲
- 申请人: 中电普瑞电力工程有限公司
- 申请人地址: 北京市昌平区南邵镇南中路16号
- 专利权人: 中电普瑞电力工程有限公司
- 当前专利权人: 中电普瑞电力工程有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市昌平区南邵镇南中路16号
- 代理机构: 北京安博达知识产权代理有限公司
- 代理商 徐国文
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00
摘要:
本发明提供了一种MMC子模块加速寿命的试验电路及方法,该试验电路为H桥型结构,其包括:设于H桥连接处的电感、分别与桥臂的两端相连的PWM波控制单元和电容,直流电源与桥臂一侧的两端并联。本发明的试验方法充分利用了加速寿命原理,提高了试验效率,节省时间。