一种MMC子模块加速寿命的试验电路及方法
摘要:
本发明提供了一种MMC子模块加速寿命的试验电路及方法,该试验电路为H桥型结构,其包括:设于H桥连接处的电感、分别与桥臂的两端相连的PWM波控制单元和电容,直流电源与桥臂一侧的两端并联。本发明的试验方法充分利用了加速寿命原理,提高了试验效率,节省时间。
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