处理器芯片仿真器及掉电测试方法
摘要:
本发明公开了一种处理器芯片仿真器,仿真芯片内具有非易失性存储器控制器和非易失性存储器,供电检测模块通过供电信号线接收和检测外部对处理器芯片的供电信号,通过仿真芯片复位信号线与仿真芯片相连接,通过非易失性存储器复位信号线与非易失性存储器控制器相连接;如果对处理器芯片停止供电,则供电检测模块向非易失性存储器控制器输出一个有效复位信号;如果供电检测模块检测到对处理器芯片重新供电,则向仿真芯片输出一个有效复位信号。本发明还公开了一种处理器芯片仿真器掉电测试的方法。本发明能够模拟非易失性存储器的掉电特性。
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