发明公开
- 专利标题: 发光检测装置
- 专利标题(英): LIGHT-EMITTING DETECTION DEVICE
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申请号: CN201680081287.2申请日: 2016-02-22
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公开(公告)号: CN108700517A公开(公告)日: 2018-10-23
- 发明人: 穴泽隆 , 山崎基博
- 申请人: 株式会社日立高新技术
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 张敬强; 金成哲
- 国际申请: PCT/JP2016/055031 2016.02.22
- 国际公布: WO2017/145230 JA 2017.08.31
- 进入国家日期: 2018-08-07
- 主分类号: G01N21/64
- IPC分类号: G01N21/64
摘要:
本发明的发光检测装置由聚光透镜阵列的各聚光透镜个别地对来自发光点阵列的各发光点的发光进行聚光使之成为光束并使各光束并列地射入传感器从而进行检测,该发光检测装置通过使各发光点的直径、各聚光透镜的焦距、间隔、各聚光透镜与传感器的光路长度之间满足预定关系,来使发光检测装置变得小型,同时实现高灵敏度和低串扰。
公开/授权文献
- CN108700517B 发光检测装置 公开/授权日:2021-12-03