• 专利标题: 一种基于闭环控制原理的电容层析成像图像重建方法
  • 专利标题(英): Capacitive tomography image reconstruction method based on closed-loop control principle
  • 申请号: CN201810486532.9
    申请日: 2018-05-21
  • 公开(公告)号: CN108711178A
    公开(公告)日: 2018-10-26
  • 发明人: 曹章徐立军吉俐胡蝶高欣
  • 申请人: 北京航空航天大学
  • 申请人地址: 北京市海淀区学院路37号
  • 专利权人: 北京航空航天大学
  • 当前专利权人: 北京航空航天大学
  • 当前专利权人地址: 北京市海淀区学院路37号
  • 主分类号: G06T11/00
  • IPC分类号: G06T11/00
一种基于闭环控制原理的电容层析成像图像重建方法
摘要:
本发明涉及一种基于闭环控制原理的电容层析成像图像重建方法,主要包括以下步骤:首先,利用电容层析成像系统通过测量分别得到空场条件下的N(N‑1)/2个独立测量值和有物体条件下的N(N‑1)/2个独立测量值,利用两者的差建立N×N的电容变化量矩阵;然后,将Calderon算法作为被控对象,利用该算法反演出的介电常数分布求解新的电容变化量矩阵作为负反馈,通过调整PID控制器的参数来修正电容变化量的偏差量,使整个闭环收敛;最后,若迭代次数达到预设迭代次数,则结束迭代并输出重建结果,否则继续进行迭代。该方法首次将闭环控制原理与Calderon算法相结合,能有效减小图像重建误差,显著提高图像重建质量,在电学成像领域具有重要的实用价值和很好的应用前景。
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