Invention Publication
- Patent Title: 半导体光器件和其制造方法
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Application No.: CN201780016697.3Application Date: 2017-01-30
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Publication No.: CN108780824APublication Date: 2018-11-09
- Inventor: 田崎宽郎
- Applicant: 同和电子科技有限公司
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 同和电子科技有限公司
- Current Assignee: 同和电子科技有限公司
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京林达刘知识产权代理事务所
- Agent 刘新宇; 张会华
- Priority: 2016-048820 2016.03.11 JP
- International Application: PCT/JP2017/003190 2017.01.30
- International Announcement: WO2017/154404 JA 2017.09.14
- Date entered country: 2018-09-11
- Main IPC: H01L31/10
- IPC: H01L31/10 ; H01L33/38 ; H01L33/40
Abstract:
本发明提供具有比以往优异的光提取效率或光吸收效率且降低了布线电极部的剥离率的半导体光器件和其制造方法。在本发明的半导体光器件中,在半导体层(110)的成为发光面或受光面的表面设有布线电极部(120),布线电极部(120)的线宽(W1)为2μm以上且为5μm以下,布线电极部(120)具有形成于半导体层(110)上的金属层(121)和形成于金属层(121)上的导电性硬质膜(122),导电性硬质膜(122)的硬度高于金属层(121)的硬度。
Public/Granted literature
- CN108780824B 半导体光器件和其制造方法 Public/Granted day:2021-09-24
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IPC分类: