本申请公开了一种数字电路老化仿真方法及装置，属于电子技术领域。该方法包括：对于数字电路的每条时序路径，获取该时序路径中每个模块的状态信息，该状态信息包括数字电路实际运行时的输入电压转换时间、输出负载以及信号概率；基于每个模块的状态信息分别计算每个模块的老化敏感量；基于每个模块的老化敏感量，从存储的老化敏感量与参数信息的对应关系中分别获取每个模块的参数信息；基于每个模块的参数信息，确定时序路径的时序信息。由于状态信息中包括信号概率，信号概率是电路实际运行中决定老化程度的重要因素，且信号概率与数字电路的具体结构相关，因此，根据状态信息确定的时序信息将更符合数字电路的实际情况，提高了仿真精度。