本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种高可靠的芯片化保护装置自检电路。本发明是包括：保护核、通讯核以及自检逻辑；其中，保护核包含保护逻辑电路和保护用MCU核，通讯核包含通讯逻辑电路和通讯用MCU核；自检逻辑与通讯核通过通信核的调试接口进行连接；自检逻辑与保护核通过保护核的调试接口进行连接；通讯核生成的自检电气量通过通讯核的IO口输出；保护核与通讯核间通过共享内存的方式进行数据交互，通过中断信号和IO口进行控制交互；其余连接均为直线连接。本发明极大提升了保护装置的可靠性；实现对保护装置正常工作状态的高度模拟，提升自检功能的覆盖率；根据具体保护场景加载不同的故障模拟程序，提高保护装置的适用场景。