发明授权
CN108871733B 大口径光学系统近场检测装置及其测量方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 大口径光学系统近场检测装置及其测量方法
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申请号: CN201810429564.5申请日: 2018-05-08
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公开(公告)号: CN108871733B公开(公告)日: 2020-04-07
- 发明人: 寇松峰 , 叶宇 , 张志永 , 田源 , 顾伯忠
- 申请人: 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
- 申请人地址: 江苏省南京市板仓街188号
- 专利权人: 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
- 当前专利权人: 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市板仓街188号
- 代理机构: 江苏致邦律师事务所
- 代理商 栗仲平
- 主分类号: G01M11/00
- IPC分类号: G01M11/00 ; G01J9/00
摘要:
大口径光学系统近场检测装置及其测量方法,由准直镜、微透镜阵列和探测器组成夏克哈特曼波前测量装置,其特征在于,在被测量目标的前方放置有点光源阵列作为测量信标,在被测目标的焦点前放置有分光镜和定标点光源,焦点后依次放置有准直镜、微透镜阵列和探测器;由点光源阵列、测量目标、分光镜和定标点光源组成系统自检光路;由点光源阵列、测量目标、分光镜、准直镜、微透镜阵列和探测器组成测量光路。本发明以三级像差在入瞳位置上的相关性为理论基础,以近场点光源阵列为测量信标,实现了大口径光学系统的近场检测,可以广泛用于大型光学系统的室内以及无信标等特殊条件下的检测。
公开/授权文献
- CN108871733A 大口径光学系统近场检测装置及其测量方法 公开/授权日:2018-11-23