本发明公开了一种近场电磁波测量系统，二维平面移动系统、上位机、矢量网络分析仪、升降台、水平调节装置、近场测量探头；上位机与矢量网络分析仪相连，矢量网络分析仪的输入端与近场测量探头相连，输出端与样品相连，样品放置在水平调节装置上；水平调节装置固定在升降台上；升降台固定在二维平面坐标移动系统上；近场测量探头固定于样品上方空间。本发明既可用于波导(谐振腔、光子晶体、负折射材料等)样品测量，又可以用于在开放环境中的天线样品的测量，仅需方便的调整部分部件即实现，可以有效的解决实验成本过高问题，同时用于多种样品的测量还可以有效的节约实验时间和空间。