Invention Grant
- Patent Title: 一种测定气相分子位点间距离的方法
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Application No.: CN201810688516.8Application Date: 2018-06-28
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Publication No.: CN108956751BPublication Date: 2021-08-17
- Inventor: 方向 , 贺木易 , 江游 , 黄泽建 , 戴新华 , 徐伟 , 龚晓云
- Applicant: 中国计量科学研究院
- Applicant Address: 北京市朝阳区北三环东路18号
- Assignee: 中国计量科学研究院
- Current Assignee: 中国计量科学研究院
- Current Assignee Address: 北京市朝阳区北三环东路18号
- Agency: 北京金智普华知识产权代理有限公司
- Agent 巴晓艳
- Main IPC: G01N27/64
- IPC: G01N27/64

Abstract:
本发明涉及一种测定气相分子位点间距离的方法。该方法包括以下步骤:反应物正离子通过ESI正模式离子化,在LIT中采用全扫描模式检测正离子;反应物负离子通过ESI负模式离子化,在LIT中采用全扫描模式检测负离子;正、负离子选择性传输进入LIT进行反应,反应时间1‑1000ms,采用质量分析器检测反应产物,以此确定反应是否发生;再次进行反应,并选择共价修饰离子进行串级质谱分析,用于鉴别反应活性位点;计算获得底物能量最低构象,在此基础上测量出反应活性位点与互作位点之间距离,由此得出大分子的两位点间距。气相离子/离子反应方法反应速度快、易于控制以及高效反应位点分析,及时检测反应中间体的功能也有利于反应机理的研究。
Public/Granted literature
- CN108956751A 一种测定气相分子位点间距离的方法 Public/Granted day:2018-12-07
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