利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册
发明公开
CN108961233A 一种聚晶金刚石复合片表面缺陷分类识别方法 无效 - 撤回

  • 专利标题： 一种聚晶金刚石复合片表面缺陷分类识别方法
  • 专利标题（英）： Polycrystalline diamond compact surface defect classification and recognition method
  • 申请号： CN201810691154.8
    申请日： 2018-06-28
  • 公开(公告)号： CN108961233A
    公开(公告)日： 2018-12-07
  • 发明人: 李慧慧 , 郭桦 , 崔长彩 , 陈琛
  • 申请人： 华侨大学
  • 申请人地址： 福建省泉州市丰泽区城东城华北路269号
  • 专利权人： 华侨大学
  • 当前专利权人： 华侨大学
  • 当前专利权人地址： 福建省泉州市丰泽区城东城华北路269号
  • 代理机构： 厦门市首创君合专利事务所有限公司
  • 代理商 张松亭; 李艾华
  • 主分类号： G06T7/00
  • IPC分类号： G06T7/00 ;  G06K9/62
一种聚晶金刚石复合片表面缺陷分类识别方法
摘要：
本发明公开了一种聚晶金刚石复合片表面缺陷分类识别方法，本发明解决了人工检测主观性强、效率低、分类结果的精确性和可靠性无法保障等问题，可实现聚晶金刚石复合片表面裂纹、白点、白边三种缺陷高效率、高精度、自动化的分类识别。
摘要（英）：

The invention discloses a polycrystalline diamond compact surface defect classification and recognition method. The problems of manual detection such as strong subjectivity, low efficiency and the fact that accuracy and reliability of classification results cannot be guaranteed are solved, and high-efficiency, high-precision and automatic classification recognition of three kinds of defects, i.e.,a surface crack, a white point and a white edge of a polycrystalline diamond compact can be achieved.

0/0