- 专利标题: 基于大型高频卫星系统的EIRP平面近场测试方法
- 专利标题(英): EIRP plane near-field test method based on large high-frequency satellite system
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申请号: CN201810683977.6申请日: 2018-06-28
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公开(公告)号: CN108964743A公开(公告)日: 2018-12-07
- 发明人: 宋玉亭 , 范迎春 , 游月辉 , 陈华 , 赵庆广 , 张伟夫 , 郁海勇 , 徐侃 , 王瀚霆
- 申请人: 上海卫星工程研究所
- 申请人地址: 上海市闵行区华宁路251号
- 专利权人: 上海卫星工程研究所
- 当前专利权人: 上海卫星工程研究所
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区华宁路251号
- 代理机构: 上海段和段律师事务所
- 代理商 李佳俊; 郭国中
- 主分类号: H04B7/185
- IPC分类号: H04B7/185 ; H04B17/10 ; H04B17/15 ; H04B17/29
摘要:
本发明提供了一种基于大型高频卫星系统的EIRP平面近场测试方法,包括以下步骤:步骤一,地面标定激励源信号功率;步骤二,根据测试频段调节接收探头与发射天线的距离;步骤三,卫星加电后,数管分系统、发射机加电正常工作;步骤四,将地面激励源接入地面对应频段的标准天线,用接收探头完成对标准天线的扫描;步骤五,根据卫星天线扫描结果和标准增益天线扫描结果,结合回退功率,计算EIRP。本发明有效解决了天线尺寸大、频率高的卫星系统对远场测试场地的高要求以及外场环境对卫星系统带来的威胁,在平面缩场内即可完成测试,同时避免了测试对发射机可能产生的危害,可以有效解决卫星系统整星级EIRP测试。
公开/授权文献
- CN108964743B 基于大型高频卫星系统的EIRP平面近场测试方法 公开/授权日:2021-05-21