本发明公开一种芯片出厂检验装置，包括机体底座、设置于所述机体底座的两端并驱动料盘同步旋转以水平送出芯片料带的支撑驱动机构、设置于所述机体底座上并用于在所述芯片料带的运输过程中检测芯片的出厂质量参数的检测机构，以及与所述检测机构信号连接、用于根据内置程序控制其检测流程的控制主机。本发明所提供的芯片出厂检验装置，通过支撑驱动机构驱动两端料盘旋转，对芯片料带进行卷绕，从而实现对芯片的运输效果，并通过检测机构在芯片料带的卷绕过程中实现对各个芯片的出厂质量参数的检测，同时在检测过程全程中辅以控制主机进行自动控制，快速、高效完成对芯片的批量出厂质量检验，提高质量检测精度，降低人工劳动量和人力成本。