- 专利标题: 一种基于太阳能模拟器加热的不透明固体材料法向发射率测量装置及测量方法
- 专利标题(英): Opaque solid material normal emissivity measurement device and measurement method based on heating of solar simulator
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申请号: CN201811082973.9申请日: 2018-09-17
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公开(公告)号: CN109030556A公开(公告)日: 2018-12-18
- 发明人: 艾青 , 刘梦 , 蔡静 , 夏新林 , 孙创
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市松花江专利商标事务所
- 代理商 岳泉清
- 主分类号: G01N25/20
- IPC分类号: G01N25/20
摘要:
一种基于太阳能模拟器加热的不透明固体材料法向发射率测量装置及测量方法,涉及一种法向发射率测量装置及测量方法。目的是解决不透明固体材料高温法向发射率测量方法准确性差的问题。本发明通过太阳能模拟器直接加热样品,避免了常规高温测量光路中光学窗口导致的多次反射对测量信号的干扰,红外热像仪保证待测样品温度均匀;在测量发射光谱之前先对其背景光谱进行测量,在计算中将该背景光谱从发射光谱中减去,去除了背景信号的干扰,通过校准系数的测量,消除了测量光路之间可能存在的测量偏差。设置的玻璃屏能够减弱光源的杂散辐射。本发明能够准确地计算不透明固体材料的高温法向发射率。本发明适用于不透明固体材料的高温法向发射率测量。
公开/授权文献
- CN109030556B 一种基于太阳能模拟器加热的不透明固体材料法向发射率测量装置及测量方法 公开/授权日:2021-07-06