- 专利标题: 一种近场微波谐振器谐振频率测量系统及方法
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申请号: CN201810699628.3申请日: 2018-06-29
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公开(公告)号: CN109061295B公开(公告)日: 2019-12-10
- 发明人: 袁珩 , 李铭心 , 张宁 , 张晨 , 范鹏程 , 李瑞媛 , 卞国栋
- 申请人: 北京航空航天大学
- 申请人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 代理机构: 北京科迪生专利代理有限责任公司
- 代理商 安丽; 成金玉
- 主分类号: G01R23/02
- IPC分类号: G01R23/02
摘要:
本发明涉及一种近场微波谐振器谐振频率测量系统及方法,利用电子自旋共振和金刚石氮‑空位缺陷(NV‑色心)拉比振荡频率与微波强度相关的性质,将金刚石置于静磁场中,改变微波脉冲频率和磁场强度进行光探测磁共振和拉比振荡测量,得到一系列拉比振荡频率,从中提取谐振器谐振频率。测量系统包括光学模块、微波模块、磁场装置、金刚石和控制装置,其中,金刚石内嵌NV‑色心;光学模块可以产生并导引光照射到金刚石上,同时探测金刚石发出的荧光信号;微波模块可以产生微波操控场并将其加载到金刚石上;磁场装置可以产生静磁场。本发明能实用、准确地测量微波谐振器的谐振频率和有效磁场强度,精度高,且能够在近场条件下使用。
公开/授权文献
- CN109061295A 一种近场微波谐振器谐振频率测量系统及方法 公开/授权日:2018-12-21