发明授权
CN109062807B 测试应用程序的方法及装置、存储介质、电子装置
失效 - 权利终止
- 专利标题： 测试应用程序的方法及装置、存储介质、电子装置
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申请号： CN201811076562.9申请日： 2018-09-14
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公开(公告)号： CN109062807B公开(公告)日： 2021-01-12
- 发明人: 李超 , 诸佳俊
- 申请人： 口碑(上海)信息技术有限公司
- 申请人地址： 上海市浦东新区民生路1199弄1号2901-2903、2905-2909室
- 专利权人： 口碑(上海)信息技术有限公司
- 当前专利权人： 口碑(上海)信息技术有限公司
- 当前专利权人地址： 上海市浦东新区民生路1199弄1号2901-2903、2905-2909室
- 代理机构： 北京中强智尚知识产权代理有限公司
- 代理商 黄耀威
- 主分类号： G06F11/36
- IPC分类号： G06F11/36
摘要：
本发明提供了一种测试应用程序的方法及装置、存储介质、电子装置，其中，该方法包括：获取应用程序在整个链路环境上的多项性能数据，其中，所述整个链路环境包括所述应用程序从开始研发到正式上线的所有阶段；确定所述应用程序应用的多个业务场景；在所述多个业务场景中，分别测试所述应用程序在整个链路阶段上的多项性能数据。通过本发明，解决了相关技术中测试应用程序时效率低下的技术问题，提高了应用程序的上线良品率，进一步提高了用户体验。
公开/授权文献
- CN109062807A 测试应用程序的方法及装置、存储介质、电子装置 公开/授权日：2018-12-21
