发明公开
CN109066287A 半导体激光器腔面的钝化方法及半导体激光器
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体激光器腔面的钝化方法及半导体激光器
- 专利标题(英): Method for passivating cavity surface of semiconductor laser and semiconductor laser
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申请号: CN201811170679.3申请日: 2018-09-26
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公开(公告)号: CN109066287A公开(公告)日: 2018-12-21
- 发明人: 董海亮 , 米洪龙 , 许并社 , 梁建 , 贾志刚 , 关永莉 , 王琳 , 张乔
- 申请人: 山西飞虹激光科技有限公司 , 太原理工大学
- 申请人地址: 山西省临汾市洪洞县甘亭镇飞虹工业园;
- 专利权人: 山西飞虹激光科技有限公司,太原理工大学
- 当前专利权人: 山西飞虹激光科技有限公司,太原理工大学
- 当前专利权人地址: 山西省临汾市洪洞县甘亭镇飞虹工业园;
- 主分类号: H01S5/028
- IPC分类号: H01S5/028 ; H01S5/10
摘要:
本发明提供一种半导体激光器腔面的钝化方法及半导体激光器,属于半导体激光器领域。通过氮等离子体轰击并注入半导体激光器的前腔面和后腔面,能使腔面的悬挂键与N原子充分键合,不仅能够起到钝化效果,且因为N原子的键能大,因而形成的Ga‑N键更稳定;通过使用碳等离子体轰击并注入前腔面和后腔面,使得C原子与腔面因氮离子轰击产生的新的断裂键充分结合,补偿了表面损伤的腔面,达到了保证解理腔面的悬挂键的饱和与稳定的效果。因此,本发明不仅简化了腔面钝化的工艺步骤,减少了工艺流程时间,降低了生产成本,且提高了半导体激光器的抗光学灾变水平和在高光功率密度条件下的稳定输出的可靠性,实现了半导体激光器的高功率、长寿命的目的。
公开/授权文献
- CN109066287B 半导体激光器腔面的钝化方法及半导体激光器 公开/授权日:2020-08-07