Invention Grant
- Patent Title: 粒子检测装置以及粒子检测装置的检查方法
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Application No.: CN201780028114.9Application Date: 2017-04-04
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Publication No.: CN109073531BPublication Date: 2021-03-30
- Inventor: 古谷雅 , 小原太辅
- Applicant: 阿自倍尔株式会社
- Applicant Address: 日本国东京都千代田区丸之内2丁目7番3号
- Assignee: 阿自倍尔株式会社
- Current Assignee: 阿自倍尔株式会社
- Current Assignee Address: 日本国东京都千代田区丸之内2丁目7番3号
- Agency: 上海华诚知识产权代理有限公司
- Agent 肖华
- Priority: 2016-098873 20160517 JP
- International Application: PCT/JP2017/014129 2017.04.04
- International Announcement: WO2017/199615 JA 2017.11.23
- Date entered country: 2018-11-06
- Main IPC: G01N15/14
- IPC: G01N15/14 ; G01N21/64 ; G01N21/65
Abstract:
一种粒子检测装置以及粒子检测装置的检查方法，该粒子检测装置具备：检查光源(30)，其发出检查光；流动单元(40)，其被照射检查光；以及椭圆镜(50)，其以流动单元(40)的位置为第1焦点，并在顶点设置有孔(51)。
Public/Granted literature
- CN109073531A 粒子检测装置以及粒子检测装置的检查方法 Public/Granted day:2018-12-21
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