发明授权
- 专利标题: 用于验证TDLAS系统操作的方法和设备
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申请号: CN201780023121.X申请日: 2017-03-21
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公开(公告)号: CN109073548B公开(公告)日: 2021-04-02
- 发明人: 戴夫·吉尔特纳 , 安德鲁·D·萨佩
- 申请人: 正点技术有限公司
- 申请人地址: 美国堪萨斯州
- 专利权人: 正点技术有限公司
- 当前专利权人: 正点技术有限公司
- 当前专利权人地址: 美国堪萨斯州
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 李博
- 优先权: 62/321,634 20160412 US
- 国际申请: PCT/US2017/023392 2017.03.21
- 国际公布: WO2017/180297 EN 2017.10.19
- 进入国家日期: 2018-10-11
- 主分类号: G01N21/39
- IPC分类号: G01N21/39 ; B01D53/34 ; B01D53/56 ; B01D53/74 ; B01D53/94 ; F23N5/00
摘要:
本发明公开了用于验证TDLAS系统操作的方法和设备。处理室内的气体种类特征的感测包括将第一选定激射频率的光束选择性地投射穿过其中。所述光束光学耦合到检测器,以检测具有气体种类特征所引起的选定激射频率下的吸收凹陷的处理透射光谱。所述光束选择性地投射穿过形成于光纤纤芯中的光纤布拉格光栅,以部分地反射所述第一选定激射频率的所述光束的至少一部分,同时透过所述光束的其余部分。所述光束的所述其余部分具有FBG透射光谱,其模拟关注的气体种类特征所引起的所述选定激射频率下或附近的所述吸收凹陷。所述光束的所述其余部分光学耦合到所述检测器。监测所述检测器的输出以将所述FBG透射光谱与所述处理室中产生的任何处理透射光谱进行比较。
公开/授权文献
- CN109073548A 用于验证TDLAS系统操作的方法和设备 公开/授权日:2018-12-21