发明公开
- 专利标题： 绕线检查方法及绕线检查装置
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申请号： CN201780023964.X申请日： 2017-03-31
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公开(公告)号： CN109075677A公开(公告)日： 2018-12-21
- 发明人: 水野健 , 大田顺一 , 中田智 , 网干稔 , 长谷川治之
- 申请人： 三菱电机株式会社
- 申请人地址： 日本东京
- 专利权人： 三菱电机株式会社
- 当前专利权人： 三菱电机株式会社
- 当前专利权人地址： 日本东京
- 代理机构： 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- 代理商 何立波; 张天舒
- 优先权： 2016-085211 2016.04.21 JP
- 国际申请： PCT/JP2017/013695 2017.03.31
- 国际公布： WO2017/183425 JA 2017.10.26
- 进入国家日期： 2018-10-16
- 主分类号： H02K15/095
- IPC分类号： H02K15/095 ; H02K11/20
摘要：
在将绕线线圈(1)形成于芯片(20)的固定件(10)的绕线检查方法中，具有：第二取得工序(步骤ST8)，其是取得芯片(20)的绕线后的图像的工序；第二提取工序(步骤ST9)，其是从图像进行卷绕于芯片(20)的绕线线圈(1)的轮廓数据的提取的工序；以及第二判定工序(步骤ST12)，根据绕线线圈(1)的轮廓数据对绕线线圈(1)是否合格进行判定。
公开/授权文献
- CN109075677B 绕线检查方法及绕线检查装置 公开/授权日：2021-04-02
