本发明属于二极管封装领域，具体公开了二极管检测装置，包括机架，机架上设有传送带，传送带上设有两个平行的信号通行缝，信号通行缝均沿传送带的传送方向延伸，两个信号通行缝外边沿之间的距离与框架带内边沿之间的距离相等，两个信号通行缝之间设有检测缝，检测缝下方设有用于驱动二极管引脚移动的露缝机构；两个信号通行缝上方均设有信号发射器，两个信号通行缝下方均设有信号接收器，机架上还设有与信号发射器和信号接收器均电连接的控制器，信号发射器间歇性发出信号，信号接收器接收信号并将信号传递给控制器；机架上还设有与控制器电连接的废料切除机构。采用本发明能提高目前人工检测二极管的效率。