本发明提供了一种阵列基板的检测设备及检测方法，属于显示技术领域。阵列基板的检测设备，用于对待检测的阵列基板进行检测，包括：驱动电路，用于向阵列基板的像素电极输入预设画面的显示数据；发光器件，发光器件包括第一电极、第二电极以及位于第一电极和第二电极之间的多个发光单元；测试机构，用于将发光器件的第一电极与阵列基板的像素电极电连接，向发光器件的第二电极输入预设电信号；处理机构，用于获取发光器件发出光线的光学信息，根据光学信息判断阵列基板是否存在电学不良。本发明能够对OLED显示基板的完成薄膜晶体管制程后的阵列基板进行检测，将阵列基板的性能与蒸镀有机发光层后的OLED显示基板的情况进行匹配。