- 专利标题: 利用硅PIN探测器降低γ射线干扰的中子探测方法及设备
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申请号: CN201710455306.X申请日: 2017-06-16
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公开(公告)号: CN109143318B公开(公告)日: 2023-09-15
- 发明人: 李建伟 , 李德源 , 杨明明 , 杨彪 , 林海鹏 , 于伟跃 , 张凯 , 王勇 , 赵佳辉 , 李健 , 杨发涛 , 张文涛 , 张秀 , 杨甲桥 , 吕文强 , 赵迎喜 , 宋嘉涛 , 刘建忠
- 申请人: 中国辐射防护研究院
- 申请人地址: 山西省太原市小店区学府街102号
- 专利权人: 中国辐射防护研究院
- 当前专利权人: 中国辐射防护研究院
- 当前专利权人地址: 山西省太原市小店区学府街102号
- 代理机构: 北京天悦专利代理事务所
- 代理商 任晓航; 王体浩
- 主分类号: G01T3/06
- IPC分类号: G01T3/06
摘要:
本发明属于辐射测量技术领域,具体涉及利用硅PIN探测器降低γ射线干扰的中子探测方法及设备,用6LiI闪烁体探测器对混合辐射场中的中子射线进行探测时,在与6LiI闪烁体相连的第一比较电路中设置第一电压幅值甄别阈值,将6LiI闪烁体测到的低能γ射线的信号过滤掉,为了解决高能γ射线对测量效果的影响,采用本发明的中子探测方法,包括如下步骤:(S1),在6LiI闪烁体附近设置一个硅PIN探测器;(S2),在硅PIN探测器相连的比较电路中设置第二电压幅值甄别阈值;(S3),记录采用6LiI闪烁体所测到的第一信号;记录采用硅PIN探测器所测到的第二信号;(S4),对第二信号乘以修正系数,通过在第一信号中减去乘以修正系数后的第二信号得到净中子计数率。
公开/授权文献
- CN109143318A 利用硅PIN探测器降低γ射线干扰的中子探测方法及设备 公开/授权日:2019-01-04