本发明提供一种高速光通信芯片测试系统及方法，包括控制终端、测试源、高速接口板和探针卡；测试源与控制终端相连，包括Golden Device、FPGA、光源和高速测试仪器，用于在控制终端的控制下生成测试信号；高速接口板与控制终端、测试源和探针卡相连，用于在控制终端的控制下选择Golden Device、FPGA、光源和高速测试仪器中的一个作为当前测试源，并将当前测试源生成的测试信号发送至所述探针卡；探针卡与待测高速光通信芯片相连，用于基于测试信号测试待测高速光通信芯片，获取待测高速光通信芯片的测试参数。本发明的高速光通信芯片测试系统及方法既可在芯片工程验证时保证测试精度与覆盖率，又可在大批量生产测试时有效提升并行测试效率，减少测试时间，降低测试成本。