Invention Grant
- Patent Title: 一种紫外LED芯片测试装置
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Application No.: CN201811080949.1Application Date: 2018-09-17
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Publication No.: CN109298355BPublication Date: 2024-10-08
- Inventor: 黄飞
- Applicant: 盐城东紫光电科技有限公司
- Applicant Address: 江苏省盐城市经济技术开发区漓江路66号光电产业园
- Assignee: 盐城东紫光电科技有限公司
- Current Assignee: 江苏明纳半导体科技有限公司
- Current Assignee Address: 224300 江苏省盐城市射阳经济开发区福建路东侧北三环南侧
- Agency: 盐城亭远专利代理事务所
- Agent 王威钦
- Main IPC: G01R31/44
- IPC: G01R31/44 ; G01R31/26
Abstract:
本发明涉及一种紫外LED芯片测试装置,包括底座、侧板、放置箱、矩形槽、第一凹槽、电机、转动杆、第一绕线圈、第二绕线圈、放置台、限位板、移动板、基座、凸字形槽、带动板、电动伸缩杆、安装板,所述底座顶部的一侧固定连接有侧板,所述侧板正面的右侧固定连接有放置箱,且底座的内部开设有矩形槽,所述矩形槽内表面的一侧连通有第一凹槽,所述第一凹槽内表面的底部固定连接有电机,所述电机的输出轴上通过联轴器固定连接有转动杆,所述转动杆表面的顶端与底端分别套接有第一绕线圈和第二绕线圈。该紫外LED芯片测试装置,实现对紫外LED芯片自动上料和检测,极大的提高了对紫外LED芯片的检测的效率,且结构简单、实用性强。
Public/Granted literature
- CN109298355A 一种紫外LED芯片测试装置 Public/Granted day:2019-02-01
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