Invention Grant
- Patent Title: 一种USB测控应答机绝对时延高精度校准方法
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Application No.: CN201811175419.5Application Date: 2018-10-10
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Publication No.: CN109347539BPublication Date: 2021-02-23
- Inventor: 赵赛果 , 袁鑫 , 王明伟 , 吴荣刚
- Applicant: 北京遥感设备研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区永定路51号
- Assignee: 北京遥感设备研究所
- Current Assignee: 北京遥感设备研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区永定路51号
- Agency: 中国航天科工集团公司专利中心
- Agent 葛鹏
- Main IPC: H04B7/185
- IPC: H04B7/185 ; H04L12/26
Abstract:
本发明公开一种USB测控应答机绝对时延高精度校准方法包括步骤:S1、测量宽带混频器群时延τ1;S2、构建参考闭环测试系统;S3、测量参考闭环测试系统的距离校准值ρ1;S4、构建被测件闭环测试系统;S5、测量被测件闭环测试系统的距离校准值ρ2;S6、计算USB测控应答机绝对时延τ2。该技术方案通过参考闭环测试系统与被测件闭环测试系统保持最大程度的一致性,消除了传输处理时延,提高了USB测控应答机绝对时延校准精度,从而减小了飞行试验过程中USB测控系统的测距误差。
Public/Granted literature
- CN109347539A 一种USB测控应答机绝对时延高精度校准方法 Public/Granted day:2019-02-15
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