Invention Publication
- Patent Title: 一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法及装置
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Application No.: CN201811405718.3Application Date: 2018-11-23
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Publication No.: CN109462460APublication Date: 2019-03-12
- Inventor: 彭立军 , 罗伟 , 周家喜 , 张靖 , 郑雨阳 , 顾钰
- Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
- Applicant Address: 安徽省合肥市高新技术开发区香樟大道199号
- Assignee: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
- Current Assignee: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
- Current Assignee Address: 安徽省合肥市高新技术开发区香樟大道199号
- Agency: 合肥昊晟德专利代理事务所
- Agent 王林
- Main IPC: H04L1/24
- IPC: H04L1/24

Abstract:
本发明公开了一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法及装置,配置AD9361模块,进入校正模式,由信号源发射正交单音信号;利用AD9361模块的发射功能发射单音信号,同时利用系统自带的多个AD9361通道进行校正数据的接收;对所有通道接收数据进行计算,然后进入验证模式,由信号源发送单载波信号;利用AD9361模块的发射和接受验证数据,利用计算得到的每个通道的延迟、幅度和相位值,对每个通道进行参数补偿;对验证数据进行接收和观察,如果接收到的信号对应的延迟、幅度和相位完全一致,则说明测试方法有效。本发明提出的方法通用性高,不需要额外的硬件设计,仅需要提供合理的计算资源即可;本发明提出的方法简单易行,能够满足各种场景下的使用需求。
Public/Granted literature
- CN109462460B 一种自带AD9361芯片的系统的多通道测试方法及装置 Public/Granted day:2021-06-18
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