本申请公开了一种基于MOS2膜片的光纤法珀式局部放电检测装置及方法，该装置包括第一激光器、第二激光器、第一波分复用器、法珀干涉腔、第二波分复用器及数据采集卡，其中，第一、二激光器分别与第一波分复用器的输入端连接，第一波分复用器的输出端与法珀干涉腔连接；法珀干涉腔包括MOS2膜片与光纤，第一激光器通过光纤与MOS2膜片连接；光纤内设有干涉腔，MOS2膜片与光纤的端面固定连接，MOS2膜片朝向光纤端面的一侧设有金膜；第二波分复用器的输入端与法珀干涉腔连接，其输出端与数据采集卡连接。本申请提供的检测装置采用超薄的MOS2膜片，在MOS2膜片表面上镀覆金膜，提高了膜片的反射率，极大地提高了检测灵敏度。