一种量子密钥分配系统的强光致盲攻击的检测方法及装置
Abstract:
本发明公开了一种量子密钥分配系统的强光致盲攻击的检测方法及装置,该方法包括:制备一个与编码粒子的量子态相互作用的辅助粒子;接收发送方发送的编码粒子,使辅助粒子与编码粒子发生相互作用;分别对编码粒子和所述辅助粒子的量子态进行测量;根据编码粒子的测量结果及辅助粒子的测量结果计算编码粒子的误码率和辅助粒子的误码率;判断辅助粒子的误码率是否大于预设的辅助粒子阈值;当辅助粒子的误码率大于预设的辅助粒子阈值时,则判定通信过程存在强光致盲攻击。通过实施本发明,由于辅助粒子不在量子信道中传输,窃听者无法控制辅助粒子的单光子探测器,从而能够根据检测辅助粒子的误码率,有效判断在量子通信时是否受到强光致盲攻击。
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