Invention Publication
CN109520615A 光照均匀性测试仪及测试方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 光照均匀性测试仪及测试方法
- Patent Title (English): Illumination uniformity tester and test method
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Application No.: CN201811613800.5Application Date: 2018-12-27
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Publication No.: CN109520615APublication Date: 2019-03-26
- Inventor: 孟刚 , 李亚男 , 南华 , 薛莲 , 周岩 , 范小礼 , 邓蓉 , 刘鑫 , 水涌涛 , 刘得成 , 赵民
- Applicant: 北京航天长征飞行器研究所
- Applicant Address: 北京市丰台区南大红门路1号
- Assignee: 北京航天长征飞行器研究所
- Current Assignee: 北京航天长征飞行器研究所
- Current Assignee Address: 北京市丰台区南大红门路1号
- Agency: 北京格允知识产权代理有限公司
- Agent 张沫
- Main IPC: G01J1/02
- IPC: G01J1/02 ; G01J1/04
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Abstract:
本发明涉及一种光照均匀性测试仪和测试方法,其中测试仪包括:滑轨、滑块、光学探测器、第一电机、第二电机、底座、控制器和数据采集器;第一电机控制滑轨以电机转轴为中心转动;所述电机转轴位于太阳模拟器的光斑中心处,所述滑轨的转动平面位于太阳模拟器的辐照面处;所述第二电机控制滑块在滑轨上沿径向移动;所述控制器用于发送电机控制指令给所述第一电机和第二电机;所述光学探测器安装在所述滑块上,用于测量光强发送给数据采集器。本发明通过滑轨沿圆周方向的转动结合滑块在径向上的移动,只需要一个或者两个光学探测器,就可以实现对辐照面内多个测量点的测试,提高了测量精度,尤其适用于对于大光斑尺寸的太阳模拟器的光照均匀性测试。
Public/Granted literature
- CN109520615B 太阳模拟器的光照均匀性测试仪及测试方法 Public/Granted day:2019-09-03
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