发明公开
- 专利标题: 扫描质量检测方法、控制器和装置
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申请号: CN201710840241.0申请日: 2017-09-18
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公开(公告)号: CN109522912A公开(公告)日: 2019-03-26
- 发明人: 马艳芳 , 宁洪志 , 田龙
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 曹蓓
- 主分类号: G06K9/62
- IPC分类号: G06K9/62 ; G06K9/00 ; G06K9/46 ; G06Q10/06 ; G06Q50/26
摘要:
本申请提出一种扫描质量检测方法、控制器和装置,涉及安检领域。本申请的一种扫描质量检测方法包括:根据被测人的图像获取被测人的重点被检部位的位置;根据安检人员对被测人进行人身检查的视频获取安检仪的扫描覆盖区域;根据重点被检部位的位置与安检仪的扫描覆盖区域的匹配程度确定扫描质量。通过这样的方法,能够根据被测人的图像确定其重点被检部位的位置,再根据安检人员的工作图像获取安检仪覆盖的区域,确定安检仪对重点被检部位是否扫描到位,从而实现了对安检人员工作质量的有效评估,达到提高安检人员工作质量的目的,提高了安检的有效性和安检场所的安全性。
公开/授权文献
- CN109522912B 扫描质量检测方法、控制器和装置 公开/授权日:2021-04-02