Invention Grant
- Patent Title: 用于RCS测试的背景对消微调装置
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Application No.: CN201811476479.0Application Date: 2018-12-04
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Publication No.: CN109541563BPublication Date: 2023-03-14
- Inventor: 李宽 , 姚利明 , 张亮亮 , 柳慧泉 , 麻恒进 , 张健 , 刘蕾 , 赵宪芳 , 杨帅 , 范钰伟 , 徐东臣 , 高伟光 , 邓乐武 , 邓勇
- Applicant: 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区北京市2559信箱
- Assignee: 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所
- Current Assignee: 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区北京市2559信箱
- Agency: 中国航空专利中心
- Agent 杜永保
- Main IPC: G01S7/40
- IPC: G01S7/40

Abstract:
本发明属于飞机RCS测试技术领域,涉及一种用于RCS测试的背景对消微调装置;包含吸波材料套筒(3)、三个恒拉器(1)、三个电驱垫铁(2)和加速度传感器(4);通过调节恒拉器(1)的锁紧螺母(12),锁紧并压住碟簧组,固定吸波材料套筒(3)底座,并为其提供弹性调整范围,且能够灵活适应吸波材料套筒(3)的不同姿态;再由三套电驱垫铁(2)分别调整楔形上平台(26)的上下位置,通过三支撑点的高度变化调节吸波材料套筒(3)的倾斜角度,消除吸波材料套筒(3)顶端的径向位移,从而达到对吸波材料位置的精确调节,保证背景对消效果;加速度传感器(4)实现吸波材料套筒(3)姿态的自动控制调节,提高背景对消微调效率。
Public/Granted literature
- CN109541563A 用于RCS测试的背景对消微调装置 Public/Granted day:2019-03-29
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