发明公开
- 专利标题: X射线检测器结构
- 专利标题(英): X-RAY DETECTOR STRUCTURE
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申请号: CN201811136700.8申请日: 2018-09-28
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公开(公告)号: CN109567836A公开(公告)日: 2019-04-05
- 发明人: 康纳·道格拉斯·麦科尔 , 尼古拉斯·康克利 , 凯文·金赛 , 凯文·李
- 申请人: 通用电气公司
- 申请人地址: 美国纽约州
- 专利权人: 通用电气公司
- 当前专利权人: 通用电气公司
- 当前专利权人地址: 美国纽约州
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 侯颖媖; 钱慰民
- 优先权: 15/719,999 2017.09.29 US
- 主分类号: A61B6/00
- IPC分类号: A61B6/00
摘要:
提供了一种用于获得物体的X射线图像的X射线检测器,其能够提高检测器承受冲击以及作用在外壳上的其他类型的力的能力,以防止和/或减少对检测器的内部部件的损坏。外壳包括由比如为硬质泡沫的轻质刚性材料和/或比如为蜂窝或其他网格结构的合适结构形成的内部填充物/力分配层。材料被形成或成形为填充检测器的内部的层或部分,所述层或部分是在检测器的各个内部部件之间限定的空的空间。力分配层的位置和形状确定了跨过或穿过外壳远离检测器的内部部件的负载分配的路径,并且针对吸震和/或负载分配进行了优化。
公开/授权文献
- CN109567836B X射线检测器结构 公开/授权日:2024-11-05