- 专利标题： 基于泄漏电流变化率的复合绝缘子界面性能评估方法
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申请号： CN201811433119.2申请日： 2018-11-28
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公开(公告)号： CN109581105B公开(公告)日： 2021-07-06
- 发明人: 王建国 , 童瑶 , 肖雄 , 黄焕 , 谢思洋 , 宋师男 , 樊亚东 , 蔡力
- 申请人： 武汉大学
- 申请人地址： 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- 专利权人： 武汉大学
- 当前专利权人： 武汉大学
- 当前专利权人地址： 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- 代理机构： 武汉科皓知识产权代理事务所
- 代理商 鲁力
- 主分类号： G01R31/12
- IPC分类号： G01R31/12 ; G01R31/52
摘要：
本发明涉及一种基于泄漏电流变化率的复合绝缘子界面性能评估方法，主要用于复合绝缘子试样界面性能的定量评估。它主要包括取样、水煮前直流泄漏电流试验、水煮、水煮后泄漏电流试验、泄漏电流变化率分析、界面性能评估等步骤。本方法中的泄漏电流试验便于开展，且耗时较短，选取复合绝缘子试样在水煮前后的泄漏电流变化率为指标，可以快速、高效地完成试样的界面性能评估。
公开/授权文献
- CN109581105A 基于泄漏电流变化率的复合绝缘子界面性能评估方法 公开/授权日：2019-04-05
