发明公开
CN109617653A 序列测试的优化实现方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 序列测试的优化实现方法
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申请号: CN201811489008.3申请日: 2018-12-06
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公开(公告)号: CN109617653A公开(公告)日: 2019-04-12
- 发明人: 康红娟
- 申请人: 四川长虹电器股份有限公司
- 申请人地址: 四川省绵阳市高新区绵兴东路35号
- 专利权人: 四川长虹电器股份有限公司
- 当前专利权人: 四川长虹电器股份有限公司
- 当前专利权人地址: 四川省绵阳市高新区绵兴东路35号
- 代理机构: 成都虹桥专利事务所
- 代理商 李凌峰
- 主分类号: H04L1/00
- IPC分类号: H04L1/00 ; G06F7/76 ; G06F11/36
摘要:
本发明提出一种序列测试的优化实现方法,属于数据通信和信息安全领域。本发明解决了计算机在执行现有序列测试时效率低的问题,其技术方案要点为:首先,对输入的待检序列采用合并多个不同参数下的序列频数统计同时进行基于字节的统计的方式而不是现有的分参数按比特处理方式进行序列频数统计;其次,将参数m=5和m=2时的子序列频数统计流程合并在一起执行;然后,频数统计时基于字节进行处理;最后,进行优化结果判断流程。本发明具有检查高效、占用存储资源小等优点。