产品质量分析方法、装置以及存储介质
摘要:
本发明提供了一种产品质量分析方法、装置以及存储介质,其中方法包括:基于历史质量指数数据获得质量指数偏差参数,获得与每个待分析质量指数对应的实际质量指数偏差,如果确定实际质量指数偏差小于预设的偏差阈值,则获得原因信息,将具有相同原因信息的待分析质量指数进行合并处理,获得与此原因信息相对应的原因质量指数偏差,根据综合质量指数偏差获得原因信息对于质量指数的影响程度。本发明的方法、装置以及存储介质,量化了导致质量指数下降的原因,可以针对不同的影响程度,合理配置资源,更加有针对性地解决加工过程中存在的问题,确保产品加工过程质量的稳定性,能够提高产品质量以及生产效率。
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