- 专利标题: 一种射频识别电子车牌空口性能的测试方法及装置
-
申请号: CN201910064428.5申请日: 2019-01-23
-
公开(公告)号: CN109709433B公开(公告)日: 2021-11-30
- 发明人: 郭晓涛 , 何昭 , 张亦弛 , 黄见明 , 聂梅宁 , 王立峰 , 张子龙
- 申请人: 中国计量科学研究院
- 申请人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号
- 专利权人: 中国计量科学研究院
- 当前专利权人: 中国计量科学研究院
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号
- 代理机构: 北京中强智尚知识产权代理有限公司
- 代理商 黄耀威
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00 ; G08G1/017 ; G06K7/00
摘要:
本发明涉及电子车牌系统测量技术领域,公开了一种射频识别电子车牌空口性能的测试方法及装置,包括:测试设备、被测设备或器件和转盘,其中,所述转盘边缘设有被测设备或器件,所述转盘的切线方向内设有特定宽度的测试通道,所述测试通道的第一侧面与所述转盘的切线重合,所述测试通道的第二侧面与所述转盘相交的扇形区域设有开口,所述开口对应的所述转盘的角度为预设角度;所述测试设备设于所述测试通道内。本发明测试方式简便、测试成本低,测量值可以有效溯源,有效保证了测试结果的有效性和稳定性。
公开/授权文献
- CN109709433A 一种射频识别电子车牌空口性能的测试方法及装置 公开/授权日:2019-05-03