Invention Publication
- Patent Title: 射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质
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Application No.: CN201811624502.6Application Date: 2018-12-28
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Publication No.: CN109711222APublication Date: 2019-05-03
- Inventor: 陈柯 , 刘子军
- Applicant: 重庆唯申科技有限公司
- Applicant Address: 重庆市渝中区八一路9号35-7#
- Assignee: 重庆唯申科技有限公司
- Current Assignee: 重庆唯申科技有限公司
- Current Assignee Address: 重庆市渝中区八一路9号35-7#
- Agency: 成都时誉知识产权代理事务所
- Agent 陈千
- Main IPC: G06K7/10
- IPC: G06K7/10

Abstract:
本发明公开的射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质,基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对测试仪器的测试条件参数的值进行设置,测试仪器基于这种设置对待测电子标签进行盘点,记录盘点过程中待测电子标签产生的防碰撞参数值,建立防碰撞参数值与测试条件参数取值组合的映射关系,对待测电子标签进行多次盘点,从而得到每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种,直至按照上述过程遍历测试条件参数的所有取值组合,这样就可以得到各测试条件参数取值组合与防碰撞参数相关的值的映射关系,然后基于该映射关系对待测电子标签的防碰撞性能进行评估,从而可以得到更全面、可重现、更加准确的测试结果。
Public/Granted literature
- CN109711222B 射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质 Public/Granted day:2021-11-02
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