Invention Grant
- Patent Title: 一种采用高反膜提高GaN基集成波导的光耦合效率的方法
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Application No.: CN201811634478.4Application Date: 2018-12-29
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Publication No.: CN109713091BPublication Date: 2020-06-26
- Inventor: 黎大兵 , 程东碧 , 孙晓娟 , 贾玉萍 , 石芝铭
- Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- Applicant Address: 吉林省长春市东南湖大路3888号
- Assignee: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- Current Assignee: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- Current Assignee Address: 吉林省长春市东南湖大路3888号
- Agency: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司
- Agent 刘微
- Main IPC: H01L33/00
- IPC: H01L33/00 ; H01L31/18 ; H01L33/46 ; H01L31/0232 ; H01L31/153 ; H01L31/173

Abstract:
本发明公开了一种采用高反膜提高GaN基集成波导的光耦合效率的方法,属于半导体技术领域。本方法主要针对GaN基集成波导光损耗问题,提出采用高反膜来提高GaN基集成波导的光耦合效率。包括以下关键步骤:多量子阱脊形光波导结构设计、GaN材料生长、多量子阱InGaN/GaN结构的生长、电极套制技术、多量子阱LED侧面镀高反膜等关键技术。通过本发明能够有效提高集成波导的光耦合效率,为提高GaN基集成波导光耦合效率提供了有效途径。本发明工艺简单,成本低廉,具有广阔的应用前景。
Public/Granted literature
- CN109713091A 一种采用高反膜提高GaN基集成波导的光耦合效率的方法 Public/Granted day:2019-05-03
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