发明公开
- 专利标题: 波形显示装置及历史波形统计方法
- 专利标题(英): Waveform display device and historical waveform statistical method
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申请号: CN201811487534.6申请日: 2018-12-06
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公开(公告)号: CN109765411A公开(公告)日: 2019-05-17
- 发明人: 周立功 , 杨炯
- 申请人: 广州致远电子有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市天河区天河软件园高普路1023号517室
- 专利权人: 广州致远电子有限公司
- 当前专利权人: 广州致远仪器有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市天河区天河软件园高普路1023号517室
- 代理机构: 深圳中一联合知识产权代理有限公司
- 代理商 张全文
- 主分类号: G01R13/02
- IPC分类号: G01R13/02
摘要:
本发明适用于数据测量与处理技术领域,提供了波形显示装置及历史波形统计方法,包括:第一处理单元和第二处理单元,第一处理单元包括参数测量模块,第二处理单元包括历史测量统计模块和波形显示模块。参数测量模块,用于测量波形帧数据的波形参数得到参数测量结果;历史测量统计模块用于从参数测量模块获取并统计位于历史测量范围内的多个波形帧数据的参数测量结果生成统计列表;波形显示模块用于显示统计列表,并根据查看指令调取并显示与查看指令对应的待查看的波形帧数据的波形。本发明的技术方案结合两个处理单元,能够加快运算处理速度,同时方便查看历史波形参数测量结果,也便于快速查找出异常数据并查看异常波形。
公开/授权文献
- CN109765411B 波形显示装置及历史波形统计方法 公开/授权日:2021-03-09