- 专利标题: 基于多小波分析及SVM的X射线高压电源故障诊断方法
-
申请号: CN201910045296.1申请日: 2019-01-17
-
公开(公告)号: CN109784279B公开(公告)日: 2023-04-18
- 发明人: 张建龙 , 郭鑫宇 , 陈圆圆 , 何建辉 , 王亚南 , 李月
- 申请人: 西安电子科技大学
- 申请人地址: 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
- 专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
- 代理机构: 西安长和专利代理有限公司
- 代理商 黄伟洪
- 主分类号: G06F18/213
- IPC分类号: G06F18/213 ; G06F18/24
摘要:
本发明属于电源故障探测技术领域,公开了一种基于多小波分析及SVM的X射线高压电源故障诊断方法;利用多小波工具对采集到的电源工作信号进行多尺度分解;对获取的多小波高频分量系数进行软阈值处理,去除信号中的噪声;计算不同尺度下高频系数的绝对值之和、能量及能量熵并归一化,然后将多种特征组合成新的特征向量;将特征向量送入训练好的SVM获得最终的诊断结果。本发明克服了单小波在电源工作信号分析中的不足,结合有较强泛化能力的SVM算法进行故障诊断,提高了故障诊断的性能,并且为实现X射线高压电源小型化、高频化和产业化提供技术支撑和理论依据。
公开/授权文献
- CN109784279A 基于多小波分析及SVM的X射线高压电源故障诊断方法 公开/授权日:2019-05-21