发明公开
- 专利标题: 多位超导量子比特的扩展反馈测量装置
- 专利标题(英): extended feedback measurement device for multi-bit superconducting quantum bits
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申请号: CN201811630146.9申请日: 2018-12-28
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公开(公告)号: CN109800882A公开(公告)日: 2019-05-24
- 发明人: 郭科选 , 江文兵 , 周明
- 申请人: 华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所)
- 申请人地址: 上海市嘉定区嘉罗路1485号
- 专利权人: 华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所)
- 当前专利权人: 华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所)
- 当前专利权人地址: 上海市嘉定区嘉罗路1485号
- 代理机构: 上海段和段律师事务所
- 代理商 李佳俊; 郭国中
- 主分类号: G06N10/00
- IPC分类号: G06N10/00
摘要:
本发明提供了一种多位超导量子比特的扩展反馈测量装置,包括:测量信号产生模块产生多路输入信号和多路本振信号,一一对应混频后合并产生微波读取信号输入量子芯片;信号解调模块将量子芯片的输出信号分成对应数量的分路信号后分别通过滤波解调成独立的微波射频信号,微波射频信号与本振信号一一对应混频解调成基带信号;反馈模块将基带信号分别被转换成数字信号,对数字信号做变换积分运算并输出反馈信号,根据反馈信号对量子比特控制信号进行修正。本发明基于多本振频分复用和量子反馈控制和测量,有效地解决了读取扩展性难,成本高的缺点,同时利用反馈模块实现对控制信号源的修正,提升了量子计算结果正确率,进而实现容错量子计算。
公开/授权文献
- CN109800882B 多位超导量子比特的扩展反馈测量装置 公开/授权日:2020-10-09