- 专利标题: 低温背场磁体及高温超导单元交流损耗测量装置
- 专利标题(英): Low-temperature back-field magnet and high-temperature superconductive unit alternating-current loss measuring device
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申请号: CN201910114900.1申请日: 2019-02-14
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公开(公告)号: CN109872857A公开(公告)日: 2019-06-11
- 发明人: 诸嘉慧 , 王海洋 , 张宏杰 , 陈盼盼 , 张会明 , 赵勇青 , 丘明 , 杨艳芳
- 申请人: 中国电力科学研究院有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清河小营东路15号
- 专利权人: 中国电力科学研究院有限公司
- 当前专利权人: 中国电力科学研究院有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清河小营东路15号
- 代理机构: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- 代理商 姜丽辉
- 主分类号: H01F6/00
- IPC分类号: H01F6/00 ; H01F6/06 ; H01F6/04 ; G01R33/12
摘要:
本发明提供一种低温背场磁体和高温超导单元交流损耗测量装置。该低温背场磁体包括非导磁间隔层,所述非导磁间隔层的中央设置有沿径向贯通的通孔;左侧低温超导线圈磁体;右侧低温超导线圈磁体;所述左侧低温超导线圈磁体包括M个依次同轴套接的线圈层Ri;所述左侧低温超导线圈磁体的线圈层Ri与所述右侧低温超导线圈磁体的线圈层Li对应地串接,组成合并线圈层Wi;其中,合并线圈层Wi与合并线圈层W(i+1)依次串接,组成整体线圈;使用时,所述整体线圈接入到直流电源的两侧,在所述通孔内产生预先设定强度的背场磁场。该低温背场磁体,磁场密度高,磁场强度调节方便。该高温超导单元交流损耗测量装置,测量简便、灵活、快速、准确。
公开/授权文献
- CN109872857B 低温背场磁体及高温超导单元交流损耗测量装置 公开/授权日:2021-07-27