Invention Grant
- Patent Title: 电磁屏蔽效能测量系统及测量方法
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Application No.: CN201910243430.9Application Date: 2019-03-28
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Publication No.: CN109884407BPublication Date: 2021-02-23
- Inventor: 王磊 , 方文啸 , 邵伟恒 , 贺致远 , 尧彬 , 恩云飞 , 黄云 , 王铁羊 , 骆成阳 , 刘恒洲
- Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Applicant Address: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- Assignee: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Current Assignee: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Current Assignee Address: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- Agency: 广州华进联合专利商标代理有限公司
- Agent 陈金普; 曾旻辉
- Main IPC: G01R29/08
- IPC: G01R29/08 ; G01R31/00

Abstract:
本发明涉及一种电磁屏蔽效能测量系统及测量方法,测量系统包括电磁波分析设备、电磁波发射装置以及横电磁波室。电磁波发射装置设置在横电磁波室的输入窗中,用于向横电磁波室发送横电磁波。电磁波分析设备的第一输入端连接横电磁波室的第一输出端,电磁波分析设备的第二输入端连接横电磁波室的第二输出端,用于在设置待测屏蔽材料前,根据横电磁波室的第一输出端输出的信号和横电磁波室的第二输出端的输出信号确定电磁波发射装置与横电磁波室之间的第一耦合传输系数以及第二耦合传输系数。在设置待测屏蔽材料后,根据横电磁波室的第一输出端和第二输出端输出的信号确定电磁波发射装置与恒电磁波室之间的第三耦合传输系数和第四耦合传输系数。
Public/Granted literature
- CN109884407A 电磁屏蔽效能测量系统及测量方法 Public/Granted day:2019-06-14
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