发明公开
- 专利标题: 可穿戴设备的测试方法及系统
- 专利标题(英): A test method and system for wearable equipment
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申请号: CN201711349293.4申请日: 2017-12-15
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公开(公告)号: CN109936737A公开(公告)日: 2019-06-25
- 发明人: 邸贺亮
- 申请人: 京东方科技集团股份有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- 专利权人: 京东方科技集团股份有限公司
- 当前专利权人: 京东方科技集团股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- 代理机构: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 滕一斌
- 主分类号: H04N17/00
- IPC分类号: H04N17/00 ; G06F3/01
摘要:
本发明公开了一种可穿戴设备的测试方法及系统,属于电子技术应用领域。所述方法包括:执行至少两次角度获取过程,基于至少两次角度获取过程所得到的角度变化值,确定目标虚像的光学成像参数值。本发明通过改变图像获取组件的成像区域的中心点在目标虚像的位置来获取图像获取组件相对移动的相应的角度变化值,基于该角度变化值获取可穿戴设备显示的目标虚像的光学成像参数值。由于该光学成像参数值为通过机器测量获得,因此解决了目前通过人眼观看的方式来估算目标虚像的光学成像参数值导致该光学成像参数值较为主观且准确性较低的问题。达到了最终确定的光学成像参数值相比于人眼观看的方式具有客观性且提高了准确性。
公开/授权文献
- CN109936737B 可穿戴设备的测试方法及系统 公开/授权日:2021-11-16