- 专利标题: 双锥体任意横截面的壁厚和壁厚差测量量具及测量方法
- 专利标题(英): Wall thickness and wall thickness difference measurement tool and measurement method of bipyramid any cross section
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申请号: CN201910246073.1申请日: 2019-03-29
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公开(公告)号: CN110006314A公开(公告)日: 2019-07-12
- 发明人: 胡艳平 , 胡力 , 刘国栋 , 刘虹 , 吴木义 , 刘兴军 , 王敏辉 , 徐心乐 , 凡永磊
- 申请人: 江南工业集团有限公司
- 申请人地址: 湖南省湘潭市雨湖区楠竹山镇
- 专利权人: 江南工业集团有限公司
- 当前专利权人: 江南工业集团有限公司
- 当前专利权人地址: 湖南省湘潭市雨湖区楠竹山镇
- 代理机构: 湘潭市汇智专利事务所
- 代理商 颜昌伟
- 主分类号: G01B5/06
- IPC分类号: G01B5/06
摘要:
本发明公开了一种双锥体任意横截面的壁厚和壁厚差测量量具,包括底座,支撑盘设置在底座左端,支撑盘右侧设有第一圆锥面,第一圆锥面法向上均布三个轴承Ⅰ,三个轴承Ⅰ上的三个轴承套Ⅰ组成第二圆锥面,底座右端设有后支座,后支座上设有顶针轴,顶针轴上设有第三圆锥面;滑板安装在底座上并可沿底座上的导轨槽滑动,滑板上设有表架杆,表架杆上设有百分表,测杆固定安装在滑板上。本发明巧妙利用导轨槽结构,利用轴承旋转结构,将要求被测量长度范围内的任意横截面的壁厚和壁厚差的变化反映到百分表上;解决了壁厚千分尺等常规测量工具不能测量复合锥形及深、小孔零件的壁厚和壁厚差的问题。
公开/授权文献
- CN110006314B 双锥体任意横截面的壁厚和壁厚差测量量具及测量方法 公开/授权日:2024-07-02