发明授权
摘要:
本发明提供了一种磁探测方法盲区的分析方法。主要解决了只能得出磁探测方法部分的盲区分布规律,而不是全区域范围内完整的盲区分布规律的问题。先建立完整的磁探测模型;然后建立分析模型,在全区域内分析磁目标的姿态和方向对盲区分布规律的影响;最后直观地展示磁探测方法在全区域内的盲区分布,从而得到磁探测方法完整的盲区分布规律。不仅能分析各种磁探测方法,而且能直观地、高效地得到盲区的分布规律;在全区域中分析磁探测方法盲区的分布规律,从而得到磁探测方法盲区完整的分布规律。
公开/授权文献
- CN110007350A 一种磁探测方法盲区的分析方法 公开/授权日:2019-07-12