- 专利标题: 一种基于分部介损测试的变压器绝缘缺陷分析方法
- 专利标题(英): Transformer insulation defect analysis method based on partial dielectric loss test
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申请号: CN201910184852.3申请日: 2019-03-12
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公开(公告)号: CN110031736A公开(公告)日: 2019-07-19
- 发明人: 詹江杨 , 姚晖 , 张帆 , 何文林 , 李晨 , 孙翔 , 梅冰笑 , 刘浩军 , 邵先军 , 王文浩 , 杨智 , 郑一鸣 , 陈珉 , 孙林涛 , 徐龙 , 陈易浩 , 刘丰文 , 魏泽民
- 申请人: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
- 申请人地址: 浙江省杭州市下城区朝晖八区华电弄1号
- 专利权人: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
- 当前专利权人: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市下城区朝晖八区华电弄1号
- 代理机构: 浙江翔隆专利事务所
- 代理商 张建青
- 主分类号: G01R31/14
- IPC分类号: G01R31/14 ; G01R31/12 ; G01R27/26
摘要:
本发明公开了一种基于分部介损测试的变压器绝缘缺陷分析方法。介损测试被广泛应用于变压器绝缘状态的分析诊断工作中,但传统的介损测试方法仅对绕组-铁心/夹件/地的介损进行测试,且因为主变接地的限制通常采用反接法,导致测试准确度较差,且难以对具体位置的缺陷进行有效判断。本发明根据大型电力变压器典型结构,采用降低电压的正接法对变压器绕组-铁心、绕组-夹件以及不同绕组之间的介损进行分部测试,并结合各部分绝缘介质之间的电场耦合效应分析,对变压器各部件之间的绝缘缺陷进行准确分析和缺陷定位。本发明提出的变压器绝缘缺陷分析方法具有更高的缺陷检出效率和定位准确度。
公开/授权文献
- CN110031736B 一种基于分部介损测试的变压器绝缘缺陷分析方法 公开/授权日:2021-07-06