发明授权
- 专利标题: 3D NAND闪存及其制备方法
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申请号: CN201910248967.4申请日: 2019-03-29
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公开(公告)号: CN110061008B公开(公告)日: 2020-11-17
- 发明人: 肖莉红
- 申请人: 长江存储科技有限责任公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
- 专利权人: 长江存储科技有限责任公司
- 当前专利权人: 长江存储科技有限责任公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
- 代理机构: 北京汉之知识产权代理事务所
- 代理商 陈敏
- 主分类号: H01L27/11524
- IPC分类号: H01L27/11524 ; H01L27/11551 ; H01L27/11563 ; H01L27/11578
摘要:
本发明提供一种3D NAND闪存及其制备方法,3D NAND闪存包括:半导体衬底;叠层结构,位于半导体衬底上,叠层结构包括交替叠置的栅间介质层及栅极层,栅间介质层包括交替叠置的第一漏电抑制层及第二漏电抑制层;沟道通孔,位于叠层结构内;功能侧壁,位于沟道通孔的侧壁表面;沟道层,位于沟道通孔内,且位于功能侧壁的表面。本发明3D NAND闪存中的栅间介质层为至少包括交替叠置的第一漏电抑制层及第二漏电抑制层,可以有效减小相邻栅极层之间的漏电,提高相邻栅极层之间的栅间介质层的抗击穿能力,降低相邻栅极层之间的耦合效应。
公开/授权文献
- CN110061008A 3D NAND闪存及其制备方法 公开/授权日:2019-07-26
IPC分类: