Invention Grant
- Patent Title: 自动分析装置
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Application No.: CN201780076529.3Application Date: 2017-11-13
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Publication No.: CN110073223BPublication Date: 2024-03-01
- Inventor: 圷正志 , 牧野彰久 , 三岛弘之 , 安居晃启
- Applicant: 株式会社日立高新技术
- Applicant Address: 日本东京都
- Assignee: 株式会社日立高新技术
- Current Assignee: 株式会社日立高新技术
- Current Assignee Address: 日本东京都
- Agency: 北京银龙知识产权代理有限公司
- Agent 范胜杰; 文志
- Priority: 2016-245769 2016.12.19 JP
- International Application: PCT/JP2017/040745 2017.11.13
- International Announcement: WO2018/116694 JA 2018.06.28
- Date entered country: 2019-06-11
- Main IPC: G01N35/02
- IPC: G01N35/02 ; G01N35/04

Abstract:
具备:检体架投放部(12),其能够保持一个以上的检体架(5),该检体架(5)搭载有收容了成为分析对象的检体的一个以上的检体容器(6);一个以上的分析装置(2、3),其分析检体容器(6)中收容的检体;检体架输送部(14),其将检体架以及控制装置(4),其进行控制使得对各分析装置(2、3)取得表示分析装置(2、3)的运行状况的信息即负载信息,在存在负载信息大于预先决定的送入允许值的分析装置(2、3)的情况下,停止从检体架投放部(12)向分析装置(2、3)输送检体架(5)。由此,能够减轻由于投放很多检体而产生的装置内的检体输送的堵塞,能够将检体环境、(5)从检体架投放部(12)输送到分析装置(2、3);
Public/Granted literature
- CN110073223A 自动分析装置 Public/Granted day:2019-07-30
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